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TC Wafer
性能参数
Performance Parameters
晶圆衬底
硅,碳化硅,玻璃等(可定制)
测量范围
K型:RT~1100°C
S型:RT~1300°C
B型:RT~1600°C
测温精度:
±1.1°C/0.4%
测温点数
1-34
晶圆尺寸
2-12"
最高采样频率
75Hz
存储温度
-40~70°C
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